OBJETIVO: Conocer técnicas para determinar la incertidumbre del resultado de una medición. TEMA GENERAL: Introducción. Fundamentos de metrología. Incertidumbre. Procedimientos estadísticos útiles. Proceso de estimación de la incertidumbre estándar. Incertidumbre del resultado de la medición. Ejercicios. ¿Quieres información más detallada de este curso? Por favor envíanos tus datos y nos contactaremos contigo:
OBJETIVO: El participante conocerá el funcionamiento del software. Aprenderá a crear un documento y realizar trazos vectoriales creando formas básicas. Utilizará la herramienta de pathfinder para transformar figuras y crear nuevas con libertad total. Conocerás y dominarás herramientas claves para trabajar en Illustrator, como el lápiz, el pincel y la pluma, para digitalizar una imagen […]
OBJETIVO: Conocer la base legal y los documentos técnicos de la metrología, así como las características metrológicas de los instrumentos de medida y las bases sobre la inscertidumbre de medida. DURACIÓN: 16 HORAS ¿Quieres recibir mayor información de este curso? Por favor déjanos tus datos y nos contactamos:
OBJETIVO: Proporcionar las herramientas para diseñar experimentos utilizando los criterios estadísticos para la toma de decisiones que mejoren la eficiencia en sus proceso. TEMA GENERAL: Experimentos comparativos simples. Comparaciones pareadas. Comparación de varianzas. Criterios para determinar tamaño de muestra Prueba de Kruskal-Wallis ¿Quiéres recibir información detallada de este curso? Déjanos tus […]
OBJETIVO: El participante conocerá las herramientas principales y sobre retoque fotográfico básico. DURACIÓN: 12 horas ¿Quieres información detallada de este curso? Por favor envíanos tus datos y nos contactaremos contigo:
OBJETIVO: Proporcionar los conocimientos para la redacción de una patente, mediante la redacción de una solicitud de patente con base en los lineamientos establecidos por IMPI. DURACIÓN: 18 horas ¿Quieres información detallada de este curso? Por favor envíanos tus datos y nos contactaremos contigo:
OBJETIVO: Conocer y aplicar la metodología del MSA utilizado en la industria para con ello evaluar los sistemas de medición que permitan tomar acciones preventivas que eviten insatisfacción del cliente. TEMA GENERAL: 1) Introducción. 2) Definición de Calidad y sistema de medición. 3) Factores que afectan las mediciones. 4) La evaluación a sistemas […]
OBJETIVO. Introducir al participante al entorno gráfico de desarrollo LABVIEW presentando las herramientas básicas para su manejo y el desarrollo de aplicaciones básicas TEMA GENERAL: Introducción labview tipos de datos y uso Estructuras básicas tipo de gráficas DURACIÓN: 8 HORAS 1 DÍA
